1．前言 隨著微電子制造技術(shù)向深亞微米方向發(fā)展，數(shù)字集成電路的集成度也越來越高，而半導(dǎo)體工藝中可能引入各種失效，另外材料的缺陷以及工藝的偏差都可能會導(dǎo)致芯片中電路連接的短路、斷路以及器件結(jié)間穿通等問題。這樣的物理失效必然導(dǎo)致電路功能或者性能方面的故障。為了保證設(shè)計的正確性，在制造和使用芯片時必須要對其進(jìn)行測試。目前最有效的方法就是采用可測性設(shè)計技術(shù)(DFT，De-sign For Testability)，即在設(shè)計時就保證電路的可測性。對數(shù)字邏輯電路的測試包括功能測試和結(jié)構(gòu)測試。功能測試是檢測該模塊在系統(tǒng)中工作狀態(tài)下的常用功能，并檢測模塊與系統(tǒng)的接口連接。但由于模塊的復(fù)雜性，在限定的時間內(nèi)，窮舉所有的功能并加以測試通常是不可能的。結(jié)構(gòu)電路測試是對內(nèi)部的電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行全面的測試，以保證該電路實(shí)現(xiàn)的功能的正確性。結(jié)構(gòu)電路測試首先需要將電路的物理缺陷模型化，建立故障模型，產(chǎn)生測試激勵。然后將測試激勵從原始輸入引入故障點(diǎn)，并將故障點(diǎn)的測試響應(yīng)傳播到電路的原始輸出，最后比較測試響應(yīng)與無故障響應(yīng)，判斷電路是否有故障。1986～1988年，以歐洲和北美會員為主的聯(lián)合測試行動組織(JTAG，joint test action group)率先開展了邊界掃描技術(shù)的研究，提出了一系列JTAG邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)草案。1990年TEEE和JTAC共同推出了IEEE Std 1149.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)。其主要思想是：通過在芯片管腳和芯片內(nèi)部邏輯電路之間，即芯片的邊界上，增加邊界掃捕單元來實(shí)現(xiàn)對芯片管腳狀態(tài)的串行設(shè)定和讀取，從而提供芯片級、板級和系統(tǒng)級的標(biāo)準(zhǔn)測試框架。芯片掃描機(jī)制可實(shí)現(xiàn)下列目標(biāo)：測試電路板上不同芯片之間的連接；測試芯片及電路板的功能；應(yīng)用邊界掃描寄存器完成其他測試功能，如特征分析等。在本項(xiàng)目中將采用邊界掃描技術(shù)，針對AlteraDE2，Cyclone II開發(fā)板進(jìn)行結(jié)構(gòu)測試，以保證電路功能的正確性。其基本測試思路是采用遍歷的方式檢測開發(fā)板上多個集成器件的不同引腳之間的連通性，在保證連通性的基礎(chǔ)上，引人測試激勵來判斷電路是否有相應(yīng)的響應(yīng)輸出。這中間最關(guān)鍵的要素是要通過對開發(fā)板網(wǎng)表文件的解析，提取出待測的集成器件的引腳連線。本文通過對網(wǎng)表結(jié)構(gòu)的分析，得出解析網(wǎng)表的一種有效方法：首先，針對cadence網(wǎng)表文件，一行一行的讀出每行數(shù)據(jù)，然后針對每行數(shù)據(jù)進(jìn)行語義解析，從中抽出相關(guān)的網(wǎng)絡(luò)信息，再選取需要測試的元件名，把與這些元件相連的所有引腳抽取出來，存到一個新的文件中去，該文件就包含了待測器件的所有連線信息。2．網(wǎng)表文件格式分析Cadence網(wǎng)表的格式由兩部分組成，一部分是元件的定義，另一部分是網(wǎng)絡(luò)的定義。具體如下：2.1 元件的定義格式網(wǎng)絡(luò)表第一部分是對所使用的元件進(jìn)行定義，一個典型的元件定義如下：每一個元件的定義都以符號“[”開始，以符號“]”結(jié)束。第一行是元件的名稱，即Designator信息；第二行為元件的封裝，即footprint信息；第三行為元件的注釋。2.2 網(wǎng)絡(luò)的定義格式網(wǎng)表的后半部分為電路圖中所使用的網(wǎng)絡(luò)定義。每一個網(wǎng)絡(luò)定義就是對應(yīng)電路中有電氣連接關(guān)系的一個點(diǎn)。一個典型的網(wǎng)絡(luò)定義如下：每一個網(wǎng)絡(luò)定義的部分從符號“(”開始，以符號“)”結(jié)束�！�(”符號下第一行為網(wǎng)絡(luò)的名稱。以下幾行都是連接到該網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)的所有元件的元件標(biāo)識和引腳號。如C2-2表示電容C2的第2腳連接到網(wǎng)絡(luò)。NetC2_2上；X1-1表示還有晶振X1的第1腳也連接到該網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上。根據(jù)對網(wǎng)表格式的分析可以看出每個元件都具有固定的格式：元件名，元件值，封裝類型，引腳數(shù)，X坐標(biāo)，Y坐標(biāo)；器件與器件之間用[]隔開；緊隨器件之后的是net；每個net 中的內(nèi)容都是“元件名-引腳號”(注：個數(shù)可能是不一樣)；net與net之間用()隔開。本軟件的開發(fā)平臺是C++builder6.0，采用的編程語言為C語言�；�本思路為從網(wǎng)表文件的讀入解析開始，先從網(wǎng)表文件中刪除元件定義部分，然后是根據(jù)輸入待測試的集成器件名進(jìn)行抽取相關(guān)的網(wǎng)絡(luò)信息，最后生成一個層次清晰、功能明確的待測元件管腳連線文件。3．網(wǎng)表解析過程分析本文介紹了集成電路可測性設(shè)計項(xiàng)目中針對電路網(wǎng)表文件進(jìn)行解析，提取待測集成器件之間管腳連線的方法和過程。網(wǎng)表析取程序的要求是：在給定網(wǎng)表基礎(chǔ)上，首先將網(wǎng)表轉(zhuǎn)換為有利于提取網(wǎng)絡(luò)定義信息的新網(wǎng)表，即從原有網(wǎng)表文件中刪除所有的元件定義信息和電源模塊及接地模塊信息；然后從新網(wǎng)表中，根據(jù)要測試的集成元件名提取出相應(yīng)的管腳連線信息；最后再把管腳連線信息按照易于測試的文件格式進(jìn)行保存。3.1 網(wǎng)表文件中元件信息的過濾根據(jù)對網(wǎng)表格式的分析可以看出對網(wǎng)表采用單行讀取的方法比較方便，故通過調(diào)用fgets()函數(shù)來讀取文件的每一行。由于每個器件的信息是用“[]”隔開的，這樣“[”，就可以作為一個元件信息是否開始的標(biāo)志，而“]”就可以作為一個元件信息是否讀完的標(biāo)志。對舊網(wǎng)表，首先聲明一個FILE指針，用fopen(“舊網(wǎng)表的路徑”，“r”)打開舊網(wǎng)表文件，然后利用fgets()函數(shù)把一行信息讀到臨時字符數(shù)組str[]中，使用strcmp()函數(shù)分別與“[”和“]”進(jìn)行比較，以確定某一個元件信息的開始和結(jié)束。另外使用strcmp()函數(shù)與“(”比較，以確定元件定義的結(jié)束和網(wǎng)絡(luò)信息定義的開始。按照前面的設(shè)計思路，我們需要從網(wǎng)表文件中提取的僅是網(wǎng)絡(luò)信息，因此，用feof()函數(shù)判別是否讀到舊網(wǎng)表文件尾，如沒有，則通過調(diào)用fgets()函數(shù)讀取一行信息，只要不是“(”，說明該行信息不屬于網(wǎng)絡(luò)定義部分，用continue語句跳過；繼續(xù)讀取下一行，直到讀到“(”，說明已經(jīng)讀到網(wǎng)絡(luò)定義部分，可以將該行信息及其之后的所有信息都寫入新的網(wǎng)表文件。打開新網(wǎng)表文件可以看到，新網(wǎng)表文件已經(jīng)過濾掉了舊網(wǎng)表文件中與測試無關(guān)的元件信息部分，而只保留了網(wǎng)絡(luò)的定義部分。本部分程序流程如圖1所示。3.2 網(wǎng)表文件中電源及接地模塊的過濾在新網(wǎng)表文件創(chuàng)建成功以后，對其進(jìn)一步分析可以知道，在新的網(wǎng)表文件中包含了一些電源模塊，如+1.2v，+1.8V，+2.5V，+3.3V，+5V，+12V等；還有接地模塊GND，GNDC等。這些模塊所包含信息仍與測試管腳無關(guān)，所以還需要過濾掉。過濾這些電源模塊和接地模塊的方法仍然是采用fgets()函數(shù)依次瀆取每一行信息，然后調(diào)用strcmp()函數(shù)進(jìn)行判斷是否為對應(yīng)的電源及接地模塊，如果是，則跳過該模塊的文件塊，從“(”開始，至“)”結(jié)束。本部分流程如圖2所示。3.3 待測器件管腳連線文件的生成過程分析經(jīng)過以上兩步處理后的網(wǎng)表文件中只余下net信息了。在界面上輸入需要測試的元件名，然后在新網(wǎng)表文件中查找出包含所有待測試元件的網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)，最后將查找出的網(wǎng)絡(luò)結(jié)點(diǎn)以一定的格式存入一個新的文件。由于在新網(wǎng)表文件中要抽取出的是在同一個網(wǎng)絡(luò)結(jié)點(diǎn)中同時包括多個待測元件的那些引腳號，即這些器件之間的連線。因此，在使用fgets()函數(shù)一行一行讀取信息時，首先從每行信息中抽取出元件名，然后將該元件名與輸入的待測試的元件名進(jìn)行比較，如一致則將該行信息寫入新文件，