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2009年11月23日，中國北京——全球科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技（紐約證交所代碼：TMO）推出Niton手持式X射線熒光分析儀的最新系列產(chǎn)品：XL2t、XL3t和XL3t-GOLDD低端到高端的三種型號產(chǎn)品。Thermo Scientific Niton手持分析儀專門針對現(xiàn)場嚴(yán)苛條件而設(shè)計，是現(xiàn)場元素分析的最佳工具，可滿足客戶在合金、礦物、環(huán)境、土壤以及廢金屬回收等領(lǐng)域的大部分需求。這三款新產(chǎn)品將在第十三屆北京分析測試學(xué)術(shù)報告會及展覽會（簡稱：BCEIA 2009）上展出。
XL2t
XL2t是XLt系列的升級產(chǎn)品，專為滿足苛刻的應(yīng)用環(huán)境而設(shè)計，是先進(jìn)的軟硬件技術(shù)與多年行業(yè)經(jīng)驗完美結(jié)合的產(chǎn)物，具有更加卓越的分析性能，速度更快、精度更高、可靠性更強，是真正意義上的非破壞性檢測，瞬間出示檢測結(jié)果，能滿足客戶合金、礦物、土壤、消費品、電子產(chǎn)品、環(huán)保等多種分析要求。此系列專門針對中國中低端客戶研發(fā)，擁有全面漢化界面，且操作簡單，符合人體工程學(xué)設(shè)計，日光下可輕松讀取測試數(shù)值，用戶界面具有簡單易用的菜單定制功能和多種語言選項，可分析從硫（S）至鈾（U）之間的超過25種化學(xué)元素。
XL3t
XL3t產(chǎn)品集成了最先進(jìn)的電子和材料技術(shù)，為用戶提供了前所未有的嶄新功能，如先進(jìn)的X射線管和智能化的多位濾光片，對鎂（Mg）至鈾（U）間的元素均可提供最佳的有效激發(fā)；先進(jìn)的高速數(shù)字信號處理器及雙嵌入式數(shù)據(jù)芯片技術(shù)，可高速完成樣品的分析測試；選配國際獨創(chuàng)的Camera和Small spot功能，可輕松實現(xiàn)對小樣品的精確檢測；可翻轉(zhuǎn)、一體化、全天候密封式彩色觸摸屏，可輕松實現(xiàn)小雨、陽光直射等苛刻現(xiàn)場環(huán)境下的檢測。此外，XL3t還具有良好的可擴展性，可滿足客戶對多種應(yīng)用及更低檢出限的需求。
XL3t-GLODD
XL3t-GLODD秉承了XL3t原有的優(yōu)異性能，并采用特制的超大硅漂移探測器及最優(yōu)化的幾何學(xué)設(shè)計，各項性能較傳統(tǒng)的Si PIN探測器提高十倍，較常規(guī)的SDD探測器提高3倍。具有最快的檢測速度及最低的檢測限，真正實現(xiàn)了實驗室級別的檢測性能，在不充氮氣的情況下即可檢測Mg、Al、Si、P、S等輕元素，是目前國際上最高端的手持式X射線熒光分析儀，可滿足客戶對更高速度、更低檢出限的追求。
XL2t
XL2t是XLt系列的升級產(chǎn)品，專為滿足苛刻的應(yīng)用環(huán)境而設(shè)計，是先進(jìn)的軟硬件技術(shù)與多年行業(yè)經(jīng)驗完美結(jié)合的產(chǎn)物，具有更加卓越的分析性能，速度更快、精度更高、可靠性更強，是真正意義上的非破壞性檢測，瞬間出示檢測結(jié)果，能滿足客戶合金、礦物、土壤、消費品、電子產(chǎn)品、環(huán)保等多種分析要求。此系列專門針對中國中低端客戶研發(fā)，擁有全面漢化界面，且操作簡單，符合人體工程學(xué)設(shè)計，日光下可輕松讀取測試數(shù)值，用戶界面具有簡單易用的菜單定制功能和多種語言選項，可分析從硫（S）至鈾（U）之間的超過25種化學(xué)元素。
XL3t
XL3t產(chǎn)品集成了最先進(jìn)的電子和材料技術(shù)，為用戶提供了前所未有的嶄新功能，如先進(jìn)的X射線管和智能化的多位濾光片，對鎂（Mg）至鈾（U）間的元素均可提供最佳的有效激發(fā)；先進(jìn)的高速數(shù)字信號處理器及雙嵌入式數(shù)據(jù)芯片技術(shù)，可高速完成樣品的分析測試；選配國際獨創(chuàng)的Camera和Small spot功能，可輕松實現(xiàn)對小樣品的精確檢測；可翻轉(zhuǎn)、一體化、全天候密封式彩色觸摸屏，可輕松實現(xiàn)小雨、陽光直射等苛刻現(xiàn)場環(huán)境下的檢測。此外，XL3t還具有良好的可擴展性，可滿足客戶對多種應(yīng)用及更低檢出限的需求。
XL3t-GLODD
XL3t-GLODD秉承了XL3t原有的優(yōu)異性能，并采用特制的超大硅漂移探測器及最優(yōu)化的幾何學(xué)設(shè)計，各項性能較傳統(tǒng)的Si PIN探測器提高十倍，較常規(guī)的SDD探測器提高3倍。具有最快的檢測速度及最低的檢測限，真正實現(xiàn)了實驗室級別的檢測性能，在不充氮氣的情況下即可檢測Mg、Al、Si、P、S等輕元素，是目前國際上最高端的手持式X射線熒光分析儀，可滿足客戶對更高速度、更低檢出限的追求。
